Lugar de origem
Shandong, China
Suporte personalizado
OEM, ODM, OBM
Padrão
ISO13320-1:1999, gb/T19077.1-2008, q/0100jwn001-2013
Princípio
Sistema de detecção multiespectral de feixe duplo
Faixa de tamanho
0.01-2000μm
Erro de repetibilidade
<0.5%
Laser
Laser vermelho semicondutor de alto desempenho
Método estatístico
Distribuição de volume, distribuição de quantidade
Relatório de teste
Palavra, excel, foto (bmp), texto etc