Laboratório Mueller Matrix Elípseoscópio Espectroscópico para Estrutura de Filme Semicondutor e Nanostrutura Periódica

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Zhengzhou Tainuo Film Materials Co., Ltd.7 yrs

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Principais atributos

Principal especificação da indústria

Garantia

1 ANO

Poder

Eletrônico

Outros atributos

Suporte personalizado

OEM

Lugar de origem

Henan, China

Marca

CYKY

Número do Modelo

CY-SE-L

Parâmetros elipsométricos

Psi: 0-90 °, delta: -90-270 °

Faixa de comprimento de onda da fonte de luz

380-1000nm

Diâmetro 200μm

Tempo de medição

<15s

Ângulo de medição

45-90 °

Função de localização de foco

0-20mm, foco automático-localização

Precisão da repetibilidade da espessura do filme

Melhor do que 0,005nm

Precisão de despolarização

± 0.5%

Nome do produto

Elipsômetro espectroscópico

Palavra-chave

Elipsometer para análise de espessura de filme

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